服务布局
具备完整的车规可靠性试验能力,可涵盖AEC-Q100、AEC-Q101、AQG324等各项试验项目
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可靠性测试及认证
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失效分析
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ATE测试开发
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信息安全
可靠性测试及认证
协助芯片企业完成车规实验需求
为整车企业筛选合格方案供应商
失效分析
为芯片企业、零部件供应商、整车厂等提供全方位失效分析技术服务
ATE测试开发
业界主流ATE 测试设备,覆盖模拟、数字、混讯芯片测试
具备主流ATE测试开发能力,包括硬件设计、程序开发、数据分析等
信息安全
降低芯片信息安全研发风险和成本,提升研发技术与效率
为芯片信息安全能力的研发、验证、生产、测试提供全生命周期保障
ATE测试服务
拥有业界主流ATE测试平台和三温Handler
机台类型覆盖模拟,数字,混讯测试
机台从高端到中低端全覆盖,可以根据客户需求选择合适平台
具有全平台测试开发能力
测试硬件设计和制作(L/B,Socket,Kit等)
ATE测试程序开发
机台从高端到中低端全覆盖,可以根据客户需求选择合适平台
ATE测试数据参数级分析比对
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Advantest V93K
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ACCO STS8200
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Chroma3380
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长川C6100TS
检测服务
具备完整的车规可靠性试验能力,可涵盖AEC-Q100、AEC-Q101、AQG324等各项试验项目。
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超声扫描系统
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功率温度循环/PTC
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静电测试系统
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超声扫描系统
车规级芯片上车流程
车规芯片三大认证标准
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IATF 16949 质量管理体系认证
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ISO 26262 功能安全标准
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AEC-Q100 可靠性认证
AEC-Q100 可靠性认证
AEC-Q100 是车规芯片前装上车的“基本门槛”
AEC-Q100 的测试对车规级芯片的要求十分严苛,包括环境、运行稳定、可靠性、一致性、产品生命周期、良率要求等。值得一提的是,一般而言芯片企业经过完整测试通过后,可自行宣告符合AEC-Q100要求,但鉴于可能存在不实信息和产品测试的标准等级等带来的风险和麻烦,目前国内大多数车厂会以第三方实验室出具报告进行管控。
AEC-Q100 测试认证服务
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加速环境应力测试
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加速生命周期模拟测试
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封装组装完整性测试
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芯片制造可靠性测试
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电性验证测试
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缺陷筛选测试
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腔体封装完整性测试
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A组A组加速环境应力测试
PC
UHAST&AC
HTSL
THB&HAST
TC
A
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B组B组加速生命周期模拟测试
HTOL
EDR
ELFR
HTGB
B
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C组C组封装组装完整性测试
WBS&WBP
SD
PD
SBS
LI
C
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D组D组芯片制造可靠性测试
SM
EM
TDDB
HCL
MBTI
D
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E组E组电性验证测试
TEST
HBM&MM
CDM
LU
ED
E
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F组F组缺陷筛选测试
PTA
SBA
F
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G组G组腔体封装完整性测试
MS
VFV
CA
GFL
DROP
G
AEC-Q100 车用IC产品验证流程
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Test Group F
瑕疵筛选 -
Test Group C
封装测试 -
Test Group D
晶圆可靠性 -
Test Group E
电性特性确认 -
Test Group A
环境应力加速 -
Test Group B
使用寿命模拟 -
Test Group E
电性验证测试 -
Test Group H
空腔/密封测试